Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования.
Определение, уточнение параметров элементарной ячейки.
Определение фаз по слоям.
Микродифракция.
Анализ текстуры, построение полюсных фигур.
Определение напряжений и размера кристаллитов.
Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий.
Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур.
Анализ монокристаллов.
Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев.
Анализ наноразмерных порошков и материалов.
Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (SmallangleX-rayscattering), анализ размерного распределения наночастиц.
Дифракция в плоскости (in-plane дифракция).
Проведение исследований в экстремальных условиях обработки.
Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры.
Кластерный анализ.